Carrier Mobility Enhancement of Tensile Strained Si and SiGe Nanowires via Surface Defect Engineering
Ma, JW (Ma, J. W.), Lee, WJ (Lee, W. J.), Bae, JM (Bae, J. M.), Jeong, KS (Jeong, K. S.), Oh, SH (Oh, S. H.), Kim, JH (Kim, J. H.), Kim, SH (Kim, S. -H.), Seo, JH (Seo, J. -H.), Ahn, JP (Ahn, J. -P.), Kim, H (Kim, H.), mann-ho cho
NANO LETTERS, v.15, no.11, pp.7204-7210